EDAX est leader dans le domaine de la microanalyse pour le microscope électronique, avec des systèmes EDS, WDS et EBSD parmi les plus performants du marché.
TEAM™ : toute la connaissance et l'expérience d'un expert en EDS à votre service.TEAM™ est le tout dernier logiciel d'analyse EDS développé par EDAX. Grâce aux fonctionnalités avancées Smart directement intégrés au logiciel TEAM™, vous effecturez des analyses EDS très simplement de manière fiables. De plus, le logiciel TEAM™ intègre toutes les dernières technologies informatiques pour plus de fluidité, d'interactivité et de facilité d'utilisation au quotidien.
GENESIS regroupe en un logiciel unique convivial et complet,
regroupant l'ensemble des fonctions utiles à l'analyse EDS / WDS et l'identification de phase en EBSD. Des applications spécifiques
permettent à l'utilisateur d'accroître ses capacités d'analyse. Couplé à la nouvelle électronique EDAX entièrement
digitale, tous les détecteurs EDAX peuvent être intégrés au système Genesis.
APOLLO
: détecteurs SDD de dernière génération sans azote liquide. Très fort
taux de comptage, performances exceptionnelles en détection des
élements légers jusqu'au béryllium.
SAPPHIRE : détecteurs Si(Li) avec dewar d'azote liquide standard ou compact faible consommation pour MEB et MET.
LAMBDASPEC
est le détecteur WDS nouvelle génération d'EDAX, au design compact
unique, décliné en 2 modèles : LEXS pour les raies de basse
énergie et TEXS pour l'analyse des éléments de transition.
HIKARI
: la caméra EBSD dédiée ultra rapide avec détecteur FSD
intégré pouvant atteindre une vitesse d'indexation de 450
img/sec en condition normale de
fonctionnement du MEB.
DIGIVIEW IV : cette caméra EBSD de 4ème génération est une solution versatile offrant haute résolution et haute sensibilité destinée aux applications scientifiques complexes. En outre, elle permet d'atteindre une vitesse d'indexation de 150 img/sec.
OIM™ Data Collection pour l'acquisition des données EBSD et OIM™ Analysis pour leurs analyses post-traitements forment un duo reconnu mondialement comme méthode standard analytique pour la microcaractérisation. OIM™ est une technique indispensable pour des applications de contrôle qualité et de résolution des problèmes dans les matériaux.
Couplé avec un microscope Dual Beam MEB-FIB, le module OIM™ 3D permet d'acquérir des cartes successives de manière complètement automatisé et de reconstruire en 3D donnant ainsi une information spaciale de l'orientation des grains dans les matériaux.
DELPHI permet l'identification de phases par EBSD par recherche dans des bases de données cristallographiques en couplant cette technique avec l'EDS
NEPTUNE offre à l'utilisateur le couplage des 2 techniques de microanalyse X que sont l'EDS et le WDS, pour profiter des avantages de chacune.
PEGASUS est le système couplant la microanalyse X EDS à la microcaractérisation structurale EBSD.
TRIDENT couple les 3 techniques majeures de la microcaractérisation en microscopie électronique : les microanalyses X, EDS et WDS, et la microcaractérisation structurale EBSD.
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